
\begin{enumerate}
\item L'expérience consistant à choisir au hasard un composant électronique est une épreuve de Bernoulli dont le succès est : \og le composant est défectueux \fg{} et donc la probabilité est $p=\numprint{0,0007}$.

Ainsi, répéter 20 fois de façon indépendante cette expérience constitue un schéma de Bernoulli et le nombre de succès obtenus est représenté par une variable aléatoire suivant la loi binomiale $\mathcal{B}\coord{20}{\numprint{0,0007}}$.

\item $\begin{aligned}[t]
\probavar[\geqslant]{X}{2} & = 1-\probavar[\leqslant]{X}{1}\\
& = 1-\big(\probavar{X}{0}+\probavar{X}{1}\big)\\
& = 1-\left[\dbinom{20}{0}\times\numprint{0,0007}^0\times(1-\numprint{0,0007})^{20}+\dbinom{20}{1}\times\numprint{0,0007}^1\times(1-\numprint{0,0007})^{19} \right]\\
& \approx 1-(\numprint{0,986092710141}+\numprint{0,0138149684199})\\
& \approx \numprint{0,00009}.
\end{aligned}$
\end{enumerate}
